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我最近在开发隔离 USB HUB，PCB 做了一版小迭代，于是我把元器件从旧板子上搬到了新板子上。焊接良率下降得非常严重，我折腾了好久才勉强搞定了。

当我将 DIY 的多口 USB-C PD 桌面充电站接上后，插拔了几次，发现其中一个端口被干坏了。我原以为是偶发故障，就换了个口。结果第二天继续调试 HUB 时，重新插拔了几下，充电站的另一个端口又被干坏了。这下事情就变得不那么简单了。

但在网页上查看充电站的状态，发现这两个损坏端口的 PD 控制芯片似乎还能正常通信。USB 接口到 PD 控制器的连接也没有发现断线或短路问题，功率网络上的电容 D 值也测量正常。我正好有之前换下来的、性能虽差但确定能正常工作的 PD 控制器芯片，换上后端口依然不能正常工作。这时我开始怀疑是不是通信方面出现了问题。由于 CC 网络上有 330pF 的电容器，我怀疑可能是 20V 电压窜入 CC 引脚，或是之前的接触不良导致异常高压损坏了电容器——尽管我个人觉得不太可能，但前两天我正好在其他项目遇到过电容器击穿的问题，于是决定用电桥测量一下。结果一测吓一跳：所有 CC 线的电容都测出了大约 1.3μF 的容值！而正常端口上的 CC 网络电容值大概在 200nF 左右。这显然表明问题出在电容或者 ESD 器件上。最终我单独拆件测试，确定是 ESD 器件出了问题。看来这个 ESD 器件算是“立功”了。我打算先把它换掉，但目前还不清楚到底是什么原因导致它损坏的。

可能的原因分析

综合来看，最可能的原因是我新制作的隔离 USB HUB（特别是由于其焊接良率问题）在与充电站插拔连接的瞬间，产生了异常的电气过应力，例如 HUB 内部 VBUS 与 CC 线瞬时短路导致高压倒灌，或 HUB 侧 PD 控制器工作不稳定，直接冲击并击穿了充电站上的 ESD 保护器件 D1。该 ESD 器件损坏后，其容值异常增大，严重干扰了充电站的 USB PD 通信，导致端口无法正常工作。